動態圖像顆粒測試儀(yi)依(yi)據標(biao)準(zhun)ISO-13322-2，由循環分(fen)散系(xi)統(tong)(tong)和顯(xian)微攝(she)像(xiang)系(xi)統(tong)(tong)構成圖(tu)像(xiang)粒(li)度與形貌分(fen)析系(xi)統(tong)(tong)。它是顯(xian)微成像(xiang)技(ji)術、自(zi)動(dong)(dong)控制技(ji)術、圖(tu)像(xiang)處理(li)(li)技(ji)術結(jie)(jie)合為一(yi)體的(de)(de)產(chan)品(pin)。只要把樣品(pin)放入循環系(xi)統(tong)(tong)中后，系(xi)統(tong)(tong)將自(zi)動(dong)(dong)循環、分(fen)散，通過(guo)的(de)(de)數字攝(she)像(xiang)機將顯(xian)微鏡(jing)的(de)(de)顆(ke)(ke)粒(li)圖(tu)像(xiang)拍攝(she)下來傳輸給(gei)電腦，通過(guo)的(de)(de)顆(ke)(ke)粒(li)圖(tu)像(xiang)處理(li)(li)分(fen)析軟件(jian)對圖(tu)像(xiang)進(jin)行處理(li)(li)分(fen)析，具有直(zhi)觀(guan)、形象、準(zhun)確和測試范圍(wei)寬等(deng)特(te)點。可以觀(guan)察(cha)顆(ke)(ke)粒(li)形貌，也可得到(dao)粒(li)度分(fen)布等(deng)分(fen)析結(jie)(jie)果(guo)。

動態圖像顆粒測試儀技術參數(shu)：

1、測量范圍：1～3000微米

2、zui大(da)光學放大(da)倍數：1600倍

3、zui大分辨率：0.1微米/像素

4、準確(que)性誤(wu)差：< ±3%（國家標(biao)準物(wu)質(zhi)）

5、重復性偏差：< ±3%（國家標準(zhun)物質）

6、數(shu)據(ju)輸出：周(zhou)(zhou)長(chang)(chang)分(fen)布、面積(ji)(ji)(ji)分(fen)布、長(chang)(chang)徑(jing)(jing)(jing)分(fen)布、短徑(jing)(jing)(jing)分(fen)布、周(zhou)(zhou)長(chang)(chang)相(xiang)當徑(jing)(jing)(jing)分(fen)布、面積(ji)(ji)(ji)相(xiang)當徑(jing)(jing)(jing)分(fen)布、Feret徑(jing)(jing)(jing)分(fen)布、長(chang)(chang)短徑(jing)(jing)(jing)比(bi)、中間(jian)徑(jing)(jing)(jing)（D50）、有效粒徑(jing)(jing)(jing)（D10）、限定粒徑(jing)(jing)(jing)（D60）、D30、D97、個(ge)數(shu)長(chang)(chang)度(du)平(ping)(ping)均(jun)(jun)(jun)徑(jing)(jing)(jing)、個(ge)數(shu)面積(ji)(ji)(ji)平(ping)(ping)均(jun)(jun)(jun)徑(jing)(jing)(jing)、個(ge)數(shu)體積(ji)(ji)(ji)平(ping)(ping)均(jun)(jun)(jun)徑(jing)(jing)(jing)、長(chang)(chang)度(du)面積(ji)(ji)(ji)平(ping)(ping)均(jun)(jun)(jun)徑(jing)(jing)(jing)、長(chang)(chang)度(du)體積(ji)(ji)(ji)平(ping)(ping)均(jun)(jun)(jun)徑(jing)(jing)(jing)、面積(ji)(ji)(ji)體積(ji)(ji)(ji)平(ping)(ping)均(jun)(jun)(jun)徑(jing)(jing)(jing)、不均(jun)(jun)(jun)勻(yun)系數(shu)、曲率(lv)系數(shu)。

配置參(can)數

 三(san)目生物顯微鏡:平場(chang)目鏡：10×、16×

   &nbsp;     ;       消色差物鏡：4×、10×、40×、100× （油）

    &nbsp;           總放大(da)倍數：40×-1600×

攝(she)像機：300萬像素數字CCD（標準C接(jie)口鏡頭）

     &nbsp; 自(zi)動進樣系統(tong)

應(ying)用范圍

   適用于磨料(liao)、涂(tu)料(liao)、非金屬礦、化學試(shi)劑、粉塵(chen)、填料(liao)等(deng)各種粉末顆粒的粒度測(ce)量、形(xing)貌(mao)觀察(cha)和分析。