將顆粒分析理論與計算機圖形學結合。適用改裝的顯微鏡系統，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到計算機屏幕，再使用自主開發的圖像處理軟件對其進行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的分析，并將測試結果以報告形式輸出。
  顆粒圖像分析儀采用zui直觀的圖像分析原理，把顆粒屬性直接計算出來，不但可以得到顆粒的粒度分布，而且還可以直觀的看到顆粒的形貌，并獲得其他儀器無法獲得的“球形度”、“長徑比”等顆粒形狀描述參數，對顆粒粒度的研究和形貌分析具有重要的指導性意義。

顆粒圖像分析儀主要性能特點：

高分辨采(cai)集(ji)(ji)系統：由精密光學(xue)顯微鏡、專(zhuan)業高清(qing)晰(xi)攝像(xiang)機和(he)高分辨率圖(tu)像(xiang)采(cai)集(ji)(ji)卡組合，并支持黑白和(he)彩色兩種圖(tu)像(xiang)采(cai)集(ji)(ji)方式，便于采(cai)集(ji)(ji)到更清(qing)晰(xi)、更真(zhen)實(shi)的圖(tu)像(xiang)；

直(zhi)觀的(de)反(fan)映顆粒形貌(mao)(mao)：將顆粒現時(shi)的(de)形貌(mao)(mao)實(shi)時(shi)地(di)反(fan)映到計算機屏幕上，使用戶(hu)能夠直(zhi)觀的(de)看(kan)到，以更全面地(di)了解(jie)顆粒的(de)各種屬性(xing)；

圖片自(zi)動(dong)處(chu)理功能：對采集的圖像可(ke)以(yi)自(zi)動(dong)地完成消(xiao)(xiao)除(chu)顆粒粘(zhan)連、去除(chu)雜(za)點(dian)、消(xiao)(xiao)除(chu)邊(bian)界不(bu)完整(zheng)顆粒、填補顆粒空心(xin)區域、平(ping)滑顆粒邊(bian)緣等(deng)一系列圖片處(chu)理過程，以(yi)保證其測試準(zhun)確性(xing)。

圖像拼接功能，增強數(shu)據代表性(xing)：圖像拼接功能的加入(ru)，可以將(jiang)多(duo)幅(fu)圖片(pian)拼接成一幅(fu)圖片(pian)后再處理和分析(xi)，彌(mi)補了單(dan)張(zhang)圖因視(shi)野小而導(dao)致(zhi)采集(ji)數(shu)量少的弊端，增加了參與分析(xi)的顆粒數(shu)量，增強了數(shu)據的代表性(xing)。

強大的數(shu)(shu)據分析(xi)功能：不僅可以對單個(ge)顆(ke)粒進行截面(mian)積(ji)、體積(ji)、粒徑等(deng)參(can)數(shu)(shu)進行分析(xi)，而且對整(zheng)個(ge)顆(ke)粒群按數(shu)(shu)量、體積(ji)、面(mian)積(ji)等(deng)不同(tong)的統計方式進行頻率和累計分布(bu)以及(ji)表(biao)征(zheng)整(zheng)個(ge)分布(bu)特(te)征(zheng)的一系列參(can)數(shu)(shu)，zui終以數(shu)(shu)據表(biao)、曲線圖或(huo)柱狀(zhuang)圖等(deng)不同(tong)的表(biao)現方式輸(shu)出測試結果(guo)；

分辨特性(xing)顆粒(li)：可準確分析顆粒(li)樣品(pin)的長(chang)徑比(bi)、長(chang)寬比(bi)、龐(pang)大(da)率(lv)、球形度、表面率(lv)等(deng)多種表征顆粒(li)形狀的常用參數，輕易(yi)地(di)分辨出針(zhen)狀及其他特性(xing)顆粒(li)。