1.顆粒(li)圖像采(cai)集

點擊(ji)“Rise-3002顆粒圖像分(fen)析系統(tong).exe”中的(de)“圖(tu)(tu)像(xiang)采(cai)集(ji)(ji)(ji)”進入圖(tu)(tu)像(xiang)采(cai)集(ji)(ji)(ji)界面，選擇合適的(de)物(wu)鏡在“圖(tu)(tu)像(xiang)采(cai)集(ji)(ji)(ji)”界面中觀察到(dao)清楚的(de)圖(tu)(tu)像(xiang)停(ting)止采(cai)集(ji)(ji)(ji)，將圖(tu)(tu)像(xiang)保存(cun)到(dao)合適的(de)目錄下。

2.顆(ke)粒分析(xi)測量

（1）在“顆粒圖(tu)像(xiang)分析(xi)”界面(mian)打開剛才(cai)保存的圖(tu)像(xiang)

（2）點(dian)擊(ji)“圖(tu)像處理” 選擇(ze)“亮(liang)度對比度調整”，分(fen)(fen)(fen)別選擇(ze)輸(shu)入(ru)合適的亮(liang)度、對比度值使圖(tu)像更清楚(chu)（還可進(jin)(jin)行(xing)顏色(se)調整、中(zhong)值濾波、圖(tu)像反相(xiang)等）；圖(tu)像處理完以后(hou)就可以進(jin)(jin)行(xing)“目標處理，首先選擇(ze)“自動分(fen)(fen)(fen)割(ge)”將顆(ke)粒(li)(li)(li)進(jin)(jin)行(xing)分(fen)(fen)(fen)割(ge)（也(ye)可選擇(ze)“圖(tu)像分(fen)(fen)(fen)割(ge)”“顏色(se)分(fen)(fen)(fen)割(ge)”進(jin)(jin)行(xing)手動分(fen)(fen)(fen)割(ge)），然后(hou)選擇(ze)“填充空(kong)隙” “清除微(wei)粒(li)(li)(li)”輸(shu)入(ru)合適的值將圖(tu)像中(zhong)的雜(za)質粒(li)(li)(li)子去(qu)掉，點(dian)擊(ji)“清除邊界目標”將邊界目標去(qu)除，對于(yu)重合在一起(qi)的顆(ke)粒(li)(li)(li)可以選擇(ze)“手工清除” ；后(hou)選擇(ze)“顆(ke)粒(li)(li)(li)切(qie)分(fen)(fen)(fen)”將顆(ke)粒(li)(li)(li)切(qie)分(fen)(fen)(fen)開來。

（圖像操作處理的宗旨就是確保在盡可能充(chong)分統(tong)計(ji)顆(ke)粒的情況(kuang)下，讓顆(ke)粒和背(bei)景區分的更明(ming)晰）

（3）進行顆(ke)粒(li)測量

選(xuan)擇觀(guan)察顆(ke)(ke)粒時(shi)用的物鏡的倍數及(ji)單(dan)位。然后點擊“圖像(xiang)測(ce)(ce)(ce)量”  “顆(ke)(ke)粒測(ce)(ce)(ce)量”輸出(chu)測(ce)(ce)(ce)試結果，也可在(zai)圖像(xiang)測(ce)(ce)(ce)量窗(chuang)口選(xuan)擇“直線(xian)測(ce)(ce)(ce)量”或“三點測(ce)(ce)(ce)量平行線(xian)”

也可在圖（1）中選擇“報告”直(zhi)接輸出Excel測試報告，并可根據需要(yao)選擇報告進(jin)行打(da)印。

符合(he)GMP要求，具有審計追(zhui)蹤等功能(neng)。