(1)激光法：優點：操(cao)作簡便，測(ce)試速(su)度快(kuai)，測(ce)試范圍大(da)，重復性和(he)準(zhun)確性好(hao)，涵(han)蓋行業廣泛，可(ke)實現(xian)濕(shi)法、干法、噴霧以(yi)及(ji)在線測(ce)量，也是(shi)當下(xia)zui常用(yong)的粒度檢測(ce)儀(yi)器。缺點：數據(ju)模型以(yi)及(ji)算(suan)法參數影響較大(da)，成(cheng)本相對較高。

(2)靜態圖像法：由顯微鏡、攝(she)像(xiang)機和圖像(xiang)分析(xi)(xi)軟件組(zu)成。優(you)點(dian)：成本(ben)較低，操作(zuo)簡單，圖像(xiang)清晰、可進行(xing)圓(yuan)形度(du)、長徑比等形貌(mao)分析(xi)(xi)。缺點(dian)：分析(xi)(xi)速度(du)慢（制(zhi)作(zuo)標本(ben)等工序），無法分析(xi)(xi)細顆粒（如<1μm）。 

(3)動態圖像法：由顯微鏡(jing)、高(gao)速(su)攝像機、樣品分散系(xi)統(tong)(tong)、控制(zhi)系(xi)統(tong)(tong)以及高(gao)速(su)圖像分析(xi)(xi)軟(ruan)件組成(cheng)。優點：顆粒圖像直(zhi)觀清(qing)晰，操作簡(jian)便(bian)、拍攝與(yu)分析(xi)(xi)速(su)度(du)快(kuai)、重復性和準確(que)性好，可干法也(ye)可濕法，可測量zui大顆粒，可進(jin)行圓形度(du)、長徑比等(deng)形貌(mao)分析(xi)(xi)。缺(que)點：分析(xi)(xi)細(xi)顆粒（如(ru)<1μm）圖像(xiang)不清晰，誤差較大，成本較高。

(4)電鏡(jing)法(fa)：用(yong)電子顯(xian)微鏡(jing)（掃描(miao)電鏡(jing)或透射電鏡(jing)）拍攝顆粒(li)圖(tu)(tu)像(xiang)，然后(hou)再進行圖(tu)(tu)像(xiang)分(fen)析(xi)的方(fang)法。優點(dian)：能分(fen)析(xi)納(na)米顆粒(li)和(he)超(chao)細顆粒(li)，圖(tu)(tu)像(xiang)清晰，表面紋理可見(jian)，分(fen)辨率(lv)高，是表征納(na)米材料粒(li)度的標準方(fang)法。缺點(dian)：單幅(fu)圖(tu)(tu)像(xiang)中的顆粒(li)數少、代表性(xing)差、儀(yi)器(qi)價格(ge)昂(ang)貴。

(5)篩分(fen)法(fa)：優點：簡單、直觀、設備造價(jia)低，常(chang)用于(yu)大于(yu)38μm（400目）的(de)樣品(pin)。缺點：不能用于超細樣品(pin)；結果受人為因素和篩孔變形影響較(jiao)大。

(6)沉(chen)降法(fa)：優點(dian)：操作(zuo)簡便，儀(yi)器可以連續運(yun)行(xing)，價格(ge)較低，準(zhun)確性(xing)和(he)重復性(xing)較好，測試范(fan)圍較大。缺點(dian)：測試時間較長，操作(zuo)較復雜(za)，結果易受環境因素影響。

(7)光阻法：優(you)點：測(ce)試速度快，可測(ce)液體(ti)或(huo)氣體(ti)中顆粒數，分辨力高，樣(yang)品(pin)用量少。缺點：進(jin)樣(yang)系統(tong)比較復雜，不適用粒徑<1μm的樣(yang)品。

(8)電阻法：優點(dian)：操作(zuo)簡便，可測(ce)顆(ke)粒數，等效(xiao)概念明確，速度快，準確性好(hao)。缺點(dian)：不(bu)適合(he)測(ce)量超細樣品(pin)和寬(kuan)分(fen)布樣品(pin)，更換(huan)小孔管比較(jiao)麻煩(fan)。

(9)超聲波法：優(you)點(dian)：可對高濃度漿料直(zhi)接(jie)現(xian)場測量，無需取樣。缺點(dian)：分辨率較低(di)，準確性(xing)(xing)和(he)重復性(xing)(xing)較差，結果受環(huan)境因素影響(xiang)較大。

(10)透氣法(fa)（費氏法(fa)）：優點(dian)：儀器價格(ge)低，不用對樣(yang)品(pin)進行分(fen)(fen)散，可(ke)直接測(ce)量干粉(fen)(fen)，可(ke)測(ce)磁性材料粉(fen)(fen)體。缺點(dian)：只能得到(dao)平均粒(li)(li)度值(zhi)，不能測(ce)粒(li)(li)度分(fen)(fen)布。